表面分析仪器及其技术进展（二）——扫描探针显微学  

作　　者：黄惠忠[1] 

机构地区：[1]北京大学物化所，北京100871

出　　处：《国外分析仪器技术与应用》2001年第2期8-16,共9页Foreign Analytical Instrumentation

摘　　要：本述评综合了1997年10月至1999年12月国际上在扫描探针显微学领域的发展情况，着重强调了目前流行的，用扫描探针显微学研究的最重要的一些途径。

关 键 词：表面分析仪器 纳米制造 扫描电化学显微镜 生物成像 扫描探针显微学 

分 类 号：TH838.9[机械工程—仪器科学与技术] TH742[机械工程—精密仪器及机械]