电子探针图像的非等间距采样技术  

Technique of Nonuniformly Sampling Images on an Electron Probe

作　　者：田地[1] 于前洋[2] 李艳平[3] 

机构地区：[1]吉林大学电子科学与工程学院,长春130026 [2]中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,长春130022 [3]北京信息工程学院计算机科学与技术系,北京100101

出　　处：《仪器仪表学报》2001年第4期431-433,共3页Chinese Journal of Scientific Instrument

基　　金：国土资源部"九五"科技发展计划项目 ( 95 0 5 6 0 6- 1)

摘　　要：本文基于二维采样定理 ,提出两种非等间距采集电子探针 X射线像方法。对于颗粒形状比较规则 ,X射线信号变化有明显区域特征的样品 ,实行分区等间距采样 ;对于颗粒形状不规则 ,X射线信号变化无明显区域特征的样品 ,实行自适应改变间距采样。应用这两种非等间距采样方法 ,能够在保证图像质量的前提下 ,通过减少不必要的采样点数 ,节省采样时间 13%～19%。Based on the two dimensional sampling law,two methods of nonuniformly sampling x- ray images on an electron probe are proposed.One is sampling at the equal interval in each subdivision for those specimens which are in regular shape and x- ray signals have obvious regional characteristics.The other is sampling ata self- adap- tively adjusting interval for those specimens which are not in regular shape and x- ray signals have no obvious re- gional characteristics.By the methods reducing unnecessary sampling points,the mapping progress of electron probe can speed up 13%— 19% under certain qualities.

关 键 词：图像采样 非等间距采样 电子探针 计算机 数字成像系统 

分 类 号：TP274[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置] TP391.41[自动化与计算机技术—控制科学与工程]