瞬态光谱量子分析及其测量  

Quantum Analysis and Measurement for Transient Spectrum

作　　者：吴宝宁[1] 刘建平[1] 宋一兵[1] 李宇鹏[1] 岳文龙[1] 杨利[2] 

机构地区：[1]西安应用光学研究所国防科工委光学计量一级站,西安710065 [2]北京理工大学机电工程学院,北京100081

出　　处：《光学学报》2001年第7期825-828,共4页Acta Optica Sinica

摘　　要：介绍了新近研制的瞬态光谱测量仪 ,详细分析了瞬态光谱测量中的量子转换过程 ,进而表述出瞬态光谱信噪比表达式、图像参数和光电转换量子效率、光电成像有效积分时间和CCD光敏面的作用 。A recently developed transient spectrum measurement instrument is introduced. Quantum conversion process of transient light spectrum measuring is analysed in detail, and a S/N expression of transient light spectrum, image parameters, electro-optic imaging and effect of CCD light sensitive surface are described. Finally, the measured spectrum curves are given.

关 键 词：瞬态光谱学 光电成像 CCD探测 量子分析 瞬态光谱测量仪 

分 类 号：TH744.1[机械工程—光学工程]