复合绝缘子的临界场强气隙和杂质的影响  

作　　者：M.Kumosa 江讯 等 

出　　处：《电瓷避雷器译丛》2000年第47期30-35,82,共7页

摘　　要：对一345KV等级的复合绝缘子进行了数值场计算，进行此计算是为了确定绝缘子环氧玻璃增强介质材料内内部应力水平，包括宏观与微观水平两者。把没有缺陷和存在空隙和裂纹的绝缘子作为模型。然后应用此电场计算来确定如果局放发生是否会在绝缘体内产生局部放电活动，因为其它一些研究已有明局部放电所产生的酸性产物对裂纹和空隙的快速增长有强烈的影响。它最后可能导致绝缘子脆性破坏。提出了对不同结构中的结果，特别引人注目的是，玻璃纤维棒中存在的各种细小的缺陷和杂质会产生很大的应力放大作用。更多的是使用结合以电气应力与X射线照射使用搜索局部放电技术，以剔除在制造阶段的缺陷。

关 键 词：复合绝缘子 临界场强气隙 杂质 X射线 数值计算 

分 类 号：TM216[一般工业技术—材料科学与工程]