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作 者:陈茂惠[1] 吴国涛[1] 朱光明[1] 尤金跨[1] 林祖赓[2]
机构地区:[1]厦门大学固体表面物理化学国家重点实验室厦门大学化学系,福建厦门361005 [2]厦门大学固体表面物理化学国家重点实验室,厦门大学化学系福建厦门361005
出 处:《电化学》2001年第3期263-269,共7页Journal of Electrochemistry
基 金:SupportedbyNaturalScienceFoundationofFujianProvince (E0 0 10 0 0 2 )
摘 要:本文采用XPS ,SEM ,XRD和电化学充放电测试研究了硼掺杂的中间相碳素微球 (MCMB)的结构和性能 .结果表明掺杂硼提高了MCMB的石墨化程度和晶粒尺寸 ,极大地改变了MCMB的形貌 .电化学充放电实验说明硼掺杂的中间相碳素微球嵌锂过程处于较高的电位 。The anodic performances of boron doped and undoped mesocarbon microbeads(MCMBs) were comparatively studied and the structures were characterized by XPS,SEM,XRD and electrochemical measurements. It was found that boron doping samples greatly increased the degree of graphitization and the crystallite size,leading to quite different morphology. Electrochemical discharge/charge cycle tests indicate that lithium intercalation occurred at a little higher potential for the boron doped MCMBs, being attended by greater irreversible capacity loss.
关 键 词:中国相碳素微球 硼掺杂 电化学性能 XPS SEM XRD 锂离子电池 负极材料 表征
分 类 号:TM912[电气工程—电力电子与电力传动] TM242[一般工业技术—材料科学与工程]
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