用扫描电镜–微粒分析仪测量粉末样品  

Powder measurement with SEM/MPA

作　　者：阮世池[1] 

机构地区：[1]电子科技大学材料分析中心,四川成都610054

出　　处：《电子元件与材料》2001年第3期10-10,15,共2页Electronic Components And Materials

摘　　要：利用扫描电镜配备微粒分析仪(SEM/MPA)对粉末样品作了形貌观察和粒度统计分布测定，表明SEM/MPA可在陶瓷工艺、冶金工艺等材料工程中实际应用。Microparticle topography and size distribution of TiO2 powder are analyzed by SEM/MPA. The results show that the technology can be used practically the applications of ceramic engineering, metallurgical enegineering, etc. (3 refs.)

关 键 词：扫描电子显微镜 微粒分析仪 粉末测量 

分 类 号：TN16[电子电信—物理电子学]