检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:常本康[1] 雷远清[1] 车晶[1] 郭良 崔开源
机构地区:[1]南京理工大学电子工程与光电技术学院,江苏南京210094 [2]云南光学仪器厂 [3]南京旭光仪器厂
出 处:《兵工学报》2001年第2期199-200,共2页Acta Armamentarii
摘 要:该文用 XPS分析了 MCP电极表面以及 代像增强器 MCP电极表面成份。结果表明 , 代像增强器 MCP电极表面碱金属与铅的含量达 9.69%。这是 代增强器等效背景噪声的主要来源。用加热器控制了 代像增强器制备过程中的碱金属流场和碱金属蒸气对 MCP的污染 ,从而使 代像增强器信噪比达 5.0Electrode surface compositions of MCP and the MCP of second generation image intensifiers are studied with XPS. The results show that one of the equivalent background noise sources in second generation image intensifiers comes from the impurities K, Na, Cs and Pb existing on the electrode surface of the MCP, and the impurity content attains 9.69%. Pollution of alkali metal can be controled by a heater that controls the flow field of alkali metal vapor when the photocathode is prepared. In this way a 5.06 signal/noise ratio for the second generation image intensifiers can be achieved.
关 键 词:光电阴极 电极表面 X射线光电子能谱 噪声特性 制备 温差法工艺 XPS Ⅱ代像增强器 等效背景
分 类 号:TN144[电子电信—物理电子学]
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在链接到云南高校图书馆文献保障联盟下载...
云南高校图书馆联盟文献共享服务平台 版权所有©
您的IP:216.73.216.44