微米PIXE对含金矿样的分析  

作　　者：任炽刚[1] 周世俊[1] 胡卫明 黄发泱 汤家镛[1] 杨福家[1] 王奎仁[2] 周有勤[2] 

机构地区：[1]复旦大学物理二系,上海200433 [2]中国科学技术大学七系,合肥230026

出　　处：《科学通报》1991年第16期1215-1217,共3页Chinese Science Bulletin

摘　　要：<正> 建立在PIXE(质子激发X射线荧光分析)技术基础上的微米PIXE技术是继电子微探针之后的一种新的微束分析技术,它的探测限可优于电子探针10~2倍。对地质样品中痕量元素的测定,对矿物学、矿床学和地球化学领域矿物成分的微结构研究有重要意义。

关 键 词：微米 PIXE 含金矿样 矿样分析 

分 类 号：P575.5[天文地球—矿物学]