利用同步辐射形貌术研究晶体缺陷的实验方法探讨  

Experimental method for reseaching crystal defects with synchrotron radiation topography

作　　者：牟其善[1] 张杰[1] 官文栎[1] 彭祖建[1] 李可[1] 胡秀琴[1] 刘希玲[1] 路庆明[2] 马长勤[2] 王绪宁[2] 田玉莲[3] 

机构地区：[1]山东教育学院数理系,济南250013 [2]山东大学化学院,济南250100 [3]中国科学院高能物理研究所,北京100039

出　　处：《物理实验》2001年第7期18-21,共4页Physics Experimentation

基　　金：山东省自然科学基金资助项目(Y98A15 0 18);山东大学晶体材料国家实验室资助项目

摘　　要：利用同步辐射 X射线形貌术研究晶体缺陷 ,是近年来发展起来的一种优良的实验方法 .本文在研究LNP等晶体缺陷的同时 ,对这种实验方法进行了系统的探讨 ,讨论了散射光的消除、焦距的选择、样品的透明度与厚度、曝光的时间、底片的冲洗等问题 。It is a good experimental method to study crystal defects with synchrotron radiation X ray topography. The experimental method is researched systematically while the defects of LNP crystal is investigated in this paper. It discusses the elimination of scattering light,selection of focal length,thickness and transparency of sample, exposure time, development of film, and the choice rule of Laue spots in crystal diffraction in researching crystal defects.

关 键 词：同步辐射 X射线形貌术 晶体缺陷 LiNbP4O12 晶体 实验方法 衍射 

分 类 号：O766[理学—晶体学]