连续扫描ICP-AES法测定触点材料中硒碲  

作　　者：吴相华 陈燕 丁红星 

机构地区：[1]国营秦川机械厂

出　　处：《理化检验（化学分册）》1991年第4期250-250,共1页Physical Testing and Chemical Analysis(Part B:Chemical Analysis)

摘　　要：本文提出了ICP-AES法测定触头材料中的硒碲。测定仪器使用PERKIN-ELMER公司的ICP/6500光谱仪。通过与原子吸收法和吸光光度法测定结果相比较,方法快速,准确度较好,能满足日常分析的要求。一仪器与工作条件 PERKIN-ELMER公司ICP/6500光谱仪 PE7300计算机;PE-PR-210打印机炬管组合配有氧化铝注入管,内径2.00mm。经过优化试验,仪器操作参数（ICP/6500系统操作参数）见下。RF发生器:晶体控制固定频率27.12MH2;高频输出功率1.8kW:工作功率1.25kW。单色仪:P-E5000型Czerny-TUrner结构;UV光栅2880条·mm-1;倒线色率数0.65nm·mm-1。雾化器为直角交叉气动雾化器。

关 键 词：触点材料 硒 碲 测定 ICP-AES 

分 类 号：O613.5[理学—无机化学]