X射线荧光光谱快速分析地质物料主、次元素  

Rapid Determination of Major and Trace Elements in Geological Samples by XFS

作　　者：杨仲平 

机构地区：[1]中国有色金属总公司矿产地质研究院分析室

出　　处：《光谱实验室》1998年第4期101-104,共4页Chinese Journal of Spectroscopy Laboratory

摘　　要：本文建立了Ｘ射线荧光光谱分析地质、化探扫面样的快速方法。掌握各元素的分析特征，选择适宜的条件，从而缩短分析时间，降低其成本，达到快速、简便的目的。A method has been developed for the determination of major and trace elements in geological samples by XFS. The method by changing the conditions of measurement and decreasing the time of measurement is simple ,fast and cheap.

关 键 词：X射线荧光光谱 地质物料 元素分析 压片法 样品制备 

分 类 号：P575.4[天文地球—矿物学] P585.3[天文地球—地质学]