同步辐射全反射XRF实验  

Total Reflection X Ray Fluorescence Experiments Excited by Synchrotron Radiation at XRF

作　　者：吴应荣[1] 潘巨祥[1] 赵利敏[1] 李光城[1] 黄宇营[1] 

机构地区：[1]中国科学院高能物理研究所

出　　处：《光谱实验室》1998年第3期12-15,共4页Chinese Journal of Spectroscopy Laboratory

摘　　要：本文叙述了同步辐射全反射Ｘ射线荧光分析的实验装置和方法，给出了几种标准物质ＴＸＲＦ实验的检出限，我们已在细胞元素谱、体液和水样方面作了一些研究。并对实验结果进行了讨论。The experimental equipment and method of total reflection X ray fluorescence analysis excited by synchrotron radiation is described. Some experiment results,MDLs for severial kinds of standard materials and the discussion on the experiments are given.

关 键 词：同步辐射 全反射X射线荧光分析 痕量分析 检出限 灵敏度 TXRF 

分 类 号：O657.34[理学—分析化学]