等离子体X射线吸收谱研究  

作　　者：彭永伦[1] 韩小英[1] 李家明[1,2] 李家明 丁耀南 杨家敏[3] 郑志坚 

机构地区：[1]清华大学物理系及原子分子纳米科学研究中心,北京100084 [2]中国科学院物理研究所,北京100080 [3]中国科学院核物理与化学研究所高温高密等离子体物理实验室,绵阳621900

出　　处：《中国科学（A辑）》2001年第11期1009-1016,共8页Science in China(Series A)

基　　金：科学技术部攀登计划;国防科技重点实验室基金;以及国家自然科学基金(批准号:19734030)资助项目

摘　　要：计算高温高密等离子体吸收谱的理论方法;该方法基于相对论原子理论,可以计算任何单元素以及多元素等离子体的谱分辨X射线吸收谱;应用了量子数亏损理论,可以减少计算量.利用该方法计算有机材料C10H16O5等离子体的吸收谱,计算结果与实验符合良好.通过理论计算与实验相比较,可对惯性约束核聚变（ICF）等离子体进行诊断分析;不但可判断等离子体的温度和密度,还可提供等离子体内各电离度能级布居等重要物理参数.同时经过有关“标准实验”验证的理论计算方法将是提供ICF“精密”辐射参数的重要基础.

关 键 词：X射线 等离子体 吸收谱 

分 类 号：O536[理学—等离子体物理]