全片层TiAl基合金的屈服强度与显微组织关系  

Relationship between Yield Strength and Microstructure of a Fully Lamellar TiAl-based Alloy

作　　者：付连峰[1] 林建国[1] 曹国鑫[1] 张永刚[1] 陈昌麒[1] 清华大学 北京 

机构地区：[1]北京航空航天大学,,北京100084

出　　处：《稀有金属材料与工程》2001年第3期178-182,共5页Rare Metal Materials and Engineering

基　　金：国家自然科学基金资助项目(项目号59895150)

摘　　要：通过特定的热处理工艺，分离出全片层组织的晶粒尺度和片层厚度两个主要的显微组织参数，研究了晶粒尺度和片层间距对全片层组织合金的强化效果。研究结果表明：合金的屈服强度随着晶粒尺度和片层厚度的减小而增加，符合Ｈａｌｌ－Ｐｅｔｃｈ强化关系。同时用屈服强度模型解释了晶粒尺度和片层厚度的强化效果。A special heat treatment process was used to separate the microstructural parameters, mainly grain size and lamellar spacing. The strengthening effect of grain size and lamellar spacing on fully lamellar alloy has been studied. The result reveals that the yield strength increases with decreasing grain size and lamellar spacing. A model of yield strength is proposed to explain the strengthening effect of grain size and lamellar spacing:

关 键 词：全片层组织 屈服强度 晶粒尺度 片层厚度 TIAL基合金 

分 类 号：TG146.23[一般工业技术—材料科学与工程]