电容型试品介质损耗变化的原因与分析  

Analysis on Cause of Variation of Dielectric of Polymeric Insulator

作　　者：黎洪昌 叶振捷 

机构地区：[1]广东南海电力局,广东广州528300 [2]广东清远电力局,广东清远511500

出　　处：《电瓷避雷器》2001年第4期7-12,共6页Insulators and Surge Arresters

摘　　要：对电流互感器、电压互感器和电容式套管等电容型试品在不同电压、不同温度条件下一次对末屏介质损耗的试验结果进行了分析 ,根据

关 键 词：电容型试品 介质损耗 套管 试验 

分 类 号：TM45[电气工程—电器]