发射光谱法测定锇中贵金属杂质  被引量:2

Determination of precious metal impuity element in osmium by emission spectroscopy

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作  者:张小燕[1] 董发昕[2] 贾缨琦[2] 

机构地区:[1]西北大学化学工程系,西安710069 [2]西北大学化学系,西安710069

出  处:《分析试验室》2001年第6期90-91,共2页Chinese Journal of Analysis Laboratory

关 键 词: 贵金属杂质 分析 测定 发射光谱法 

分 类 号:TG146.35[一般工业技术—材料科学与工程] TG115.33[金属学及工艺—金属材料]

 

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