测量绝缘子表面电荷用的新型电容探头  

Surface Charge Measurement Using the Capacitive Probe

作　　者：汪沨[1] 张乔根[1] 罗毅[1] 邱毓昌[1] 

机构地区：[1]西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室,西安710049

出　　处：《高电压技术》2001年第6期40-41,共2页High Voltage Engineering

基　　金：国家自然科学基金资助项目 ( 5 980 70 0 6 )

摘　　要：用新型电容探头对直流电压下绝缘子表面电荷进行了测量 ,得到了圆柱型绝缘子的表面电荷分布图。实验研究表明新型电容探头具有分辨率高。A capacitive probe for measuring surface charge distribution is designed. Distribution of accumulated charges on the surface of insulator stressed by DC voltage is measured. The test results show the new type capacitive probe presented in this paper has high resolution and low leakage current.

关 键 词：绝缘子 表面电荷 测量 电容探头 

分 类 号：TM216[一般工业技术—材料科学与工程]