亚毫米波激光自动测量系统的研制  

AUTOMATIC MEASUREMENT SYSTEM OF SUBMILLIMETER WAVE LASER 

作　　者：张迅[1] 梁奂晖[1] 张萍[1] 罗锡璋[1] 丘茹曼[1] 

机构地区：[1]中山大学电子与通信工程系

出　　处：《红外与毫米波学报》2001年第6期455-458,共4页Journal of Infrared and Millimeter Waves

基　　金：国家自然科学基金 (编号 6 97710 2 8);广东省自然科学基金 (编号0 0 1173);教育部"跨世纪优秀人才培养"基金资助项目~~

摘　　要：介绍了以单片机为核心的亚毫米波激光器的自动测量系统 .该系统可实现测量工作自动化 ,并利用双路校正技术 ,提高了测量准确性和可靠性 .运用该系统对小型光泵 NH3 分子激光器的谱线进行测量 。An automatic measurement system of submillimeter wave laser was introduced, in which a single-chip machine played an important part. This system automatized measurement and used double-path emendation to increase veracity and reliability of measurement. The system was used to measure the spectrum of miniature optically pumped NH3 laser, demonstrating the high performance of the system.

关 键 词：亚毫米波激光器 自动测量系统 F-P干涉仪 双路校正技术 单片机 

分 类 号：TN248[电子电信—物理电子学]