铍箔氦质谱检漏  

LEAK DETECTION OF BERYLLIUM SHEETS BY HELIUM MASS SPECFROMETER

作　　者：翟惠民 李宗理 

机构地区：[1]西北稀有金属材料研究院,宁夏753000

出　　处：《无损检测》2001年第10期444-446,共3页Nondestructive Testing

关 键 词：铍箔 氦质谱检漏 暗箱观察法 渗透液检漏法 

分 类 号：TG146.24[一般工业技术—材料科学与工程] TG115.337[金属学及工艺—金属材料]