双口RAM在嵌入式系统调试中的应用  

The application of dual port to debugging embedded system

作　　者：赵建东[1] 陈恳[1] 王广炎[2] 

机构地区：[1]清华大学精仪系 [2]西北工业大学十系

出　　处：《电子产品世界》2002年第01A期62-63,共2页Electronic Engineering & Product World

摘　　要：本文结合双口RAM特点,介绍了它在嵌入式PLC系统软硬件调试中的应用,总结了双口RAM在嵌入式系统设计和调试中简捷高效的优点。

关 键 词：双口RAM 嵌入式系统 系统调试 

分 类 号：TM571.61[电气工程—电器]