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检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:吴霞宛[1] 李小图[1] 李玲霞[1] 郝建民[2] 王希忠 王崇峰
机构地区:[1]天津大学电信学院,天津300072 [2]天津电子材料研究所,天津300192 [3]黑龙江技术检验监督局,哈尔滨150001
出 处:《压电与声光》2001年第4期302-305,共4页Piezoelectrics & Acoustooptics
基 金:国家自然科学基金 ( 5 9782 0 0 3)
摘 要:以 Ba O- Pb O- Nd2 O3- Bi2 O3- Ti O2 五元系的烧结介质瓷为研究对象探讨化合物相与介电性能的定量关系。系统的主次晶相分别为 Ba Nd2 Ti5O1 4和 Bi4 Ti3O1 2 。对系统进行 X-射线分析 ,用 X-射线衍射峰强度计算出系统中各物相的体积分数 ,再运用李赫德涅凯对数混合定则进行定量计算 ,得出系统的介电性能与用仪器实测的系统参数相符。在本研究系统中 ,X-衍射射线分析可以测定和定量表征烧结介质瓷中化合物相含量 ,经过对系统中各化合物的介电性能测定 ,可计算出所研究系统的介电性能 ,从而可作为一种介质的设计方法。In the paper dielectric properties and XRD pattern of the BaO-PbO-Nd 2O 3-Bi 2O 3-TiO 2 sintered dielectric material system are studiedIt is proposed that the main phase of the system is BaNd 2Ti 5O 14 and some Bi 4Ti 3O 12 phaseIn the system,using diffraction peak intensity in the XRD and the Lichnetecker law ,we can get each phase contentThe method of XRD analysis can mensure and quantitativly express the content of each compound and dielectric properties of the system,therefore,it is a way of designing material
分 类 号:TM28[一般工业技术—材料科学与工程]
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