β^+延发粒子衰变的一种在束测量方法  

A method of in-beam measurement of β^+ delay particle decay

作　　者：王宏伟[1] 肖志刚[1] 吴和宇[1] 段利敏[1] 张保国[1] 靳根明[1] 李祖玉[1] 魏志勇[1] 柳永英[1] 王素芳[1] 卢朝晖[1] 陈克良[1] 胡荣江[1] 朱海东[1] 岑玲[1] 李湘庆[2] 陈陶[2] 华辉[2] 

机构地区：[1]中国科学院近代物理研究所,甘肃兰州730000 [2]北京大学技术物理系,北京100871

出　　处：《核电子学与探测技术》2001年第6期417-419,439,共4页Nuclear Electronics & Detection Technology

基　　金：国家自然科学基金 (195 75 0 5 5 ) ;"百人计划"基金资助 ;中国科学院"九五"基础性研究重大科学基金 (KJ95 T- 0 3)

摘　　要：报道了一种在束测量β+ 延发粒子的方法。由新建成的兰州放射性次级束流线 (RIBLL )提供的2 0 Na次级束 ,利用飞行时间 (TOF)和能损 (ΔE)符合的方法实现 2 0 Na次级束流的在束鉴别与调制。将数据获取过程分为有束和停束两个获取时段 ,分别完成对次级束流和β+ 延发粒子的记录。同时利用脉冲发生器和计数器实现2 0A method of in bean measurement of β delay particle decay is reported. The radioactive ion 20 Na was identified in beam through TOF Δ E method on the Radioactive Ion Beam Line in Lanzhou (RIBLL). The procedure of data acquisition was divided in two stages, i.e., on beam and off beam stage, to record the Radioactive Ion Beam (RIB) and β +delay particles respectively. The half life of 20 Na is determined by using a time scaler combined with a pulse generator.

关 键 词：次级束流线 β^延发粒子衰变 飞行时间 ^能损 半衰期 在束测量方法 Β射线 探测器 钠20 半衰期 

分 类 号：O571.1[理学—粒子物理与原子核物理] O571.322[理学—物理]