偏振干涉滤光片性能评价的扩展琼斯矩阵方法  

Extended Jones Matrix used for the Analysis of Angle Property of Polarization Interference Filter

作　　者：贺银波[1] 熊静懿[1] 郑伟[1] 曾广杰[1] 余飞鸿[1] H S Kwok 

机构地区：[1]浙江大学光电系现代光学仪器国家重点实验室,浙江杭州310027 [2]香港科技大学显示技术研究中心

出　　处：《光电子．激光》2002年第2期125-128,共4页Journal of Optoelectronics·Laser

摘　　要：偏振干涉滤光片宽角度光谱特性是设计研制中的关键。为实现偏振干滤光片性能的真实模拟 ,本文提出了一套计算偏振干涉滤光片宽角度光谱特性的扩展 2× 2琼斯矩阵 ,利用各向异性介质中光传播的电磁场理论以及光学折反射定律 ,在保证准确性同时 ,给出了新的矩阵方法。这种 2× 2矩阵公式表示相当简单。理论研究结果表明 ,该方法减少了以往的计算量 ,快速简洁 。The wide angle spectrum characteristic of polarization interference filter (PIF) is key to the design and manufacture.In order to carry out the real simulation of PIF,the extended 2×2 Jones matrix used for the analysis of angle property of PIF is proposed.This extended 2×2 Jones matrix is more simple and accurate than conventional mathods.

关 键 词：偏振干扰滤光片 扩展琼斯矩阵 宽角度光谱特性 性能评估 

分 类 号：TH74[机械工程—光学工程]