动态应力下的电荷俘获机理及其对失效时间的影响  

出　　处：《电子产品可靠性与环境试验》2001年第6期48-48,共1页Electronic Product Reliability and Environmental Testing

关 键 词：动态应力 电荷获机理 失效 时间 氧化层 氧化物 界面质量 可靠性 脉冲应力 

分 类 号：TN386[电子电信—物理电子学]