带载高温环境试验装置的研制  

Research of device testing environment with load and high temperature

在线阅读下载全文

作  者:扈刚[1] 孙君曼[1] 

机构地区:[1]郑州轻工业学院信息与控制工程系,河南郑州450002

出  处:《郑州轻工业学院学报》2002年第1期43-45,共3页Journal of Zhengzhou Institute of Light Industry(Natural Science)

摘  要:研制了适用于对电工电子器件控制器等进行高温环境试验的带载高温环境试验装置 红外加热器、温控房、模拟负载、电源控制柜、单片机构成了该装置的温度检测与控制系统 ,系统的核心由AT89C5 2单片机组成 ,用来完成温度检测与控制、时间控制、报警等功能 .运行情况表明 ,该装置性能优越、价格低廉、操作简便 。The device testing environment with load and high temperature used in experiments of electronic device in load and high temperature is introduced.The temperature measuring and control system of this testing device consists of ultrared heating device,temperature control room,simulation load,electrical power control board and single chip microcomputer.The single chip microcomputer AT89C52 is the center of this system.It has the performances of temperature measuring,control,time control and warning.In practical use,the testing device has good performance such as cheaper price and easy opreation,so it is worthy to be developed.

关 键 词:带载高温环境试验装置 电工电子器件控制器 工作原理 组成 红外加热器 单片机 

分 类 号:TM93[电气工程—电力电子与电力传动]

 

参考文献:

正在载入数据...

 

二级参考文献:

正在载入数据...

 

耦合文献:

正在载入数据...

 

引证文献:

正在载入数据...

 

二级引证文献:

正在载入数据...

 

同被引文献:

正在载入数据...

 

相关期刊文献:

正在载入数据...

相关的主题
相关的作者对象
相关的机构对象