基于激光透射原理的绝缘子NSDD测量与试验研究  

作　　者：陈涛 潘天红[2] 

机构地区：[1]安徽农业大学工学院 [2]江苏大学电气信息工程学院

出　　处：《电气应用》2018年第24期80-83,共4页Electrotechnical Application

摘　　要：为监测绝缘子的污秽度水平,基于激光透射原理和数据拟合方法,研制了NSDD光传感器监测终端,采集现场的温度,湿度以及光能参数等,并通过4G模块传送到数据中心。通过大量的对比试验研究得出不同污秽物的激光透射率与灰密值关系曲线,以及不同环境参数对激光透射的影响。此研究结果可为评估绝缘子的污秽状态提供方法和思路。

关 键 词：灰密 光强传感器 绝缘子 污秽度 回归分析 

分 类 号：TM216[一般工业技术—材料科学与工程]