论表面分析  

Discussing on the surface analysis

作　　者：黄惠忠[1] 

机构地区：[1]北京大学物理化学研究所,北京100871

出　　处：《现代仪器》2002年第1期5-10,共6页Modern Instruments

摘　　要：表面分析不同于传统的体相分析,简述我国表面分析发展概况,说明表面分析技术的特点和应用。并对XIS和AES进行了综述。The Surface analysis is different from the traditional bulk analysis. A development account of national surface analysis is brief described. The features and applications of surface analytical techniques are illustrated, Finally, both XPS and AES are summarized.

关 键 词：表面分析 表面分析技术 XPS AES 表面分析仪器 

分 类 号：O657[理学—分析化学] TH838[理学—化学]