混合信号集成电路衬底噪声的一种连续时间直接测试方法  

A Novel Continuous-Time Direct Measurement Method of Substrate Noise in Mixed-Signal Integrated Circuits

作　　者：师奕兵[1] 陈光 王厚军[1] 

机构地区：[1]电子科技大学CAT室,成都610054

出　　处：《电子测量与仪器学报》2002年第1期18-22,共5页Journal of Electronic Measurement and Instrumentation

基　　金：国家留学基金管理委员会基金资助项目

摘　　要：建立了混合信号集成电路中衬底噪声对模拟电路影响的一种通用模型 ,在此基础上 ,提出了衬底噪声测试的一种新的连续时间直接测试方法。该方法采用差分放大器作为衬底噪声探测器 。The general model of the effect of substrate noise on analog circuits in mixed-signal integrated circuits is set up in this paper. Relatively, a novel continuous-time direct measurement method of substrate noise is presented. The substrate noise sensor used in this method is a differential amplifier, which provides the measurement of substrate noise up to 1 GHz.

关 键 词：混合信号集成电路 衬底噪声 模型 测试 差分放大器 

分 类 号：TN45[电子电信—微电子学与固体电子学]