基于自动微分技术的器件模型参数提取算法  

Device Model Parameter Extraction Based on Automatic Differentiation Technique

作　　者：程彬杰[1] 邵志标[1] 王莉萍 于忠 唐天同[1] 

机构地区：[1]西安交通大学电子科学与技术系,710049

出　　处：《固体电子学研究与进展》2002年第1期8-13,共6页Research & Progress of SSE

摘　　要：自动微分 (AD)技术以非标准分析为理论基础 ,是计算机数值计算领域中的一种很有前途的方法。文中提出了基于 AD技术的器件模型参数提取算法 ,在 Visual C+ +平台编制了模型参数提取程序 ,对所建立的基于表面势的 MOSFET模型进行了有约束条件的参数提取。结果表明 ,算法收敛快、稳定性好。Automatic differentiation (AD), based on the nonstandard analysis theory, is a new technique in computer numerical analysis. An AD based algorithm for device model parameter extraction is presented, and is implemented in Visual C ++ environment. Using this algorithm, the constrained parameter extraction for a surface potential based MOSFET drain current model is done. Good stability, speedy convergence and accuracy is illustrated.

关 键 词：自动微分 参数提取 金属-氧化物-半导体场效应晶体管模型 半导体器件模型 集成电路 

分 类 号：TN386.1[电子电信—物理电子学]