DAFS研究NiFe／Cu多层膜结构  

作　　者：罗光明[1] 吴忠华[2] 等 

机构地区：[1]中科院物理所及凝聚态物理中心，北京100080 [2]中科院高能物理研究所同步辐射实验室，北京030039

出　　处：《北京同步辐射装置年报》1998年第1期170-171,共2页

摘　　要：本文首次利用异常衍射精细结构谱（DAFS）分析技术对多层膜中的NiFe和Cu的精细结构进行了分析。从DAFS谱中，我们提取出Ni和Cu的精细结构谱，从而可以单独研究多层膜中NiFe和Cu的精细结构。与荧光EXAFS谱的比较表明，两种方法得到的谱线完全一致。该技术为研究超薄多层膜的精细结构提供一种强有力的工具。

关 键 词：DAFS NiFe/Cu多层膜 结构 超薄金属多层膜 异常衍射精细结构谱 

分 类 号：O484.1[理学—固体物理] O766.3[理学—物理]