计算机图像处理技术在晶粒度测量中的应用  

Crystal Particle Grade Measurement Through Computer Image Process

作　　者：李志敏[1] 吴建军[1] 陈杰[1] 李育才[1] 石锐 

机构地区：[1]重庆大学光电工程学院,重庆400044

出　　处：《压电与声光》2002年第2期168-170,共3页Piezoelectrics & Acoustooptics

摘　　要：讨论了采用计算机图像处理和分析技术进行晶粒度定量测量的方法 ,介绍了对晶粒度进行定量测量的设计思想以及具体测试过程 ,为工厂的现有生产和新产品的试制提供了准确、快速的理化定量分析手段 ,有效地保证产品质量 。This paper introduces a method of measuring crystal particle grade through Quantitative Metallurgical Image Analysis System.The authors discussed the theory and the course to measure,providing a fast and precise tool of physical and chemistry analysis to factories′ current production and new product research,and efficiently ensures product quality and upgrade the level of physical and chemistry test.

关 键 词：计算机图像处理技术 晶粒度测量 金属材料 

分 类 号：TG115[金属学及工艺—物理冶金]