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作 者:蒋毅坚[1] P.S.Dobal R.S.Katiyar 王越[1]
机构地区:[1]北京工业大学激光工程研究院 [2]Department of Physics,University of PuertoRico,San Juan,PR00931-3343,PuertoRico
出 处:《光散射学报》2002年第1期58-61,共4页The Journal of Light Scattering
基 金:北京市自然科学基金 ( 2 0 0 2 0 0 5 );教育部青年骨干教师基金资助项目
摘 要:采用固相反应技术制备了x分别为 0 0 5、0 0 8和 0 1 1的 (Ta2 O5) 1-x(TiO2 ) x 陶瓷 ;在室温至 6 0 0℃范围内 ,测量了这些陶瓷样品的拉曼光谱随温度的变化。随着温度的升高 ,拉曼光谱中位于 35~38cm- 1的最低频移的声子模发生软化 ,并随之发生结构相变。拉曼光谱和实验结果都表明 :组分x分别为0 0 5、0 0 8和 0 1 1的 (Ta2 O5) 1-x(TiO2 ) x 陶瓷分别在 36 0、4 5 0和 5 4 0℃发生了由三斜至单斜相的结构相变。上述结论得到了 (Ta2 O5) 0 92 (TiO2 ) 0 0 8单晶热膨胀系数测量数据的支持。Ta 2O 5) 1-x (TiO 2) x ceramics for x = 0 05, 0 08, and 0 11 were prepared by the conventional solid state reaction technique Raman spectra of these ceramic samples was measured in the range 20 - 600℃ Raman spectra exhibited a softening of the lowest frequency phonon mode with increasing temperature followed by a phase transition A structural transition from triclinic to monoclinic phase was observed in the ceramics at about 360, 450, and 540℃ for compositions x = 0 05, 0 08, and 0 11, respectively This conclusion is support by the thermal expansion measurement of a (Ta 2O 5) 0 92 (TiO 2) 0 08 single crystal
关 键 词:(Ta2O5)1-x(TiO2)x陶瓷 结构相变 拉曼光谱 热膨胀系数 介电材料 高密度动态随机存储器
分 类 号:TQ174.13[化学工程—陶瓷工业] TP333.8[化学工程—硅酸盐工业]
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