连续谱所引起的X射线衍射花样  

作　　者：张晋远[1] 柳春兰[1] 

机构地区：[1]冶金部钢铁研究总院

出　　处：《物理测试》1991年第4期58-59,共2页Physics Examination and Testing

摘　　要：X射线衍射法是物相分析的重要方法,它的基本依据是每一种晶体物质都有其特定的衍射花样。但如果在被分析物质的一幅X射线衍射图上,除了靶的K_α标识射线所给出的衍射外,尚混杂有其它因素所导致的衍射花样,无疑会对分析带来混乱,有时甚至会得出错误的结果。常见的附加花样分别来自靶的K_β射线,靶的杂质射线以及钨的L系射线;当使用闪烁计数管时还可能会出现逃逸峰;在极低角度又会出现全反射峰等。全反射峰的强度虽则很高,但仅出现在2θ<2°的角域。

关 键 词：X射线衍射法 连续谱 物相分析 

分 类 号：TG115.23[金属学及工艺—物理冶金]