半导体集成电路筛选技术探讨  被引量:3

Discussion on Screening out the Semi-conductor Circuit

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作  者:李燕荣[1] 

机构地区:[1]中国电子技术标准化研究所基础产品研究中心

出  处:《信息技术与标准化》2002年第3期13-15,共3页Information Technology & Standardization

摘  要:简要介绍了半导体集成电路筛选技术的重要性,对集成电路的筛选项目、筛选的机理、筛选与可靠性增长试验进行了解释、分析。

关 键 词:半导体集成电路 筛选技术 筛选试验 筛选机理 测试 

分 类 号:TN406[电子电信—微电子学与固体电子学]

 

参考文献:

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二级参考文献:

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耦合文献:

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引证文献:

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同被引文献:

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相关期刊文献:

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