光纤和器件偏振模色散的测试与统计特性  

作　　者：徐坤[1] 陈明华[1] 等 

机构地区：[1]清华大学电子工程系信息光电子研究所

出　　处：《光纤通信》2002年第2期45-47,共3页

摘　　要：PMD已成为当前发展下一代高速长距离光纤传输系统的主要限制因素。本文介绍了PMD的各种测试方法并运用波长扫描法和干涉仪法对多种光纤和器件偏振模色散的统计特性进行了测试和比较，并从系统传输的角度对测试结果进行了分析。

关 键 词：光纤 器件偏振模色散 测试 统计特性 

分 类 号：TN253[电子电信—物理电子学]