心导纳微分环Ⅰ相缺蚀评分对冠心病诊断的价值  

作　　者：徐国焱[1] 吴可贵[1] 曾向军[1] 

机构地区：[1]福建医科大学附属第一医院,福州350005

出　　处：《实用心电学杂志》2002年第4期251-251,共1页Journal of Practical Electrocardiology

摘　　要：目的　探讨心导纳微分环Ⅰ相 (CADL -Ⅰ )缺蚀评分对冠心病 (CHD)诊断的价值。方法　 35例CHD(A组 )、33例其他心脏病 (B组 )、31例健康者 (C组 )行心导纳检查 ,CADL -Ⅰ相离心或归心支近Y轴内、中、外 1 3段出现缺蚀分别评为 1、2、3分 ,比较 3组间分值差异。结果　A组CADL -Ⅰ相出现缺蚀的评分明显高于B组及C组 (P均 <0 0 1) ,B组评分与C组无显著差异 (P>0 0 5 )。结论　CADL -Ⅰ相出现缺蚀的评分越高预测CHD的价值越大 。

关 键 词：心导纳微分环Ⅰ相缺蚀评分 心导纳微分环 冠心病 诊断 CHD 

分 类 号：R541.404[医药卫生—心血管疾病]