TCXO频温特性测量精度与测温样点数的关系  

作　　者：王鹤林 

出　　处：《压电晶体技术》1991年第2期48-54,共7页

关 键 词：晶体振荡器 TCXO 温度 测量 样点数 

分 类 号：TN752.2[电子电信—电路与系统]