扫描探针显微技术在TiO_2表面研究中的应用  

Surface Study of TiO_2 by Scanning Probe Microscopy

作　　者：谢敬伟[1] 暴宁钟[1] 陆小华[1] 

机构地区：[1]南京化工大学化工学院,南京210009

出　　处：《化学通报》2002年第7期445-451,共7页Chemistry

基　　金：国家杰出青年科学基金 (2 992 5 6 16 );江苏省科委应用基础研究基金 (BJ980 6 0 )资助项目

摘　　要：对近年来扫描探针显微 (SPM)技术 (扫描隧道显微镜STM和原子力显微镜AFM)在TiO2 表面的形貌、结构和物理化学性质研究中的应用进行了综述。Recent progress on the topography, structure and properties of physical chemistry of TiO 2 surface studied by SPM(STM & AFM) technology was reviewed.

关 键 词：扫描探针显微技术 TIO2 表面研究 扫描隧道显微镜 原子力显微镜 二氧化钛 形貌 结构 

分 类 号：O647.3[理学—物理化学]