CD-R光盘预期寿命探析  

作　　者：郭莉珠[1] 唐跃进[1] 朱虹 

机构地区：[1]中国人民大学档案学院,北京市100872

出　　处：《档案学通讯》2002年第4期66-68,共3页Archives Science Bulletin

摘　　要：本文分析了在档案信息存储中CD -R光盘预期寿命对光盘信息迁移与存储载体保护的重要性 ,探讨了光盘预期寿命的测试原理、测试方法以及预期寿命的加速老化测试与光老化测试 ,提出了档案存储用盘的最佳选择。

关 键 词：CD-R光盘 预期寿命 测试原理 档案信息存储技术 老化 测试方法 

分 类 号：G276[文化科学—档案学]