检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]河北工业大学,天津300130 [2]天津市城乡经济学校,天津300380
出 处:《现代仪器》2002年第2期35-37,共3页Modern Instruments
摘 要:对于触点电接触状态的好坏,一般用静态下接触电阻的大小来衡量,而触点的动态接触电阻研究尚未深入开展。本文针对小容量触点的接触可靠性进行了阐述,详细介绍了一种新研制的小容量触点的动态接触电阻测试系统。As a rule, the values of contact resistance in static state are used to judge the state of electrical contact. The research of dynamic contact resistance on contact is not lucubrated. In this paper, the contact reliability of low-capacity contact is introduced. Moreover, a testing system for dynamic contact resistance on low-capacity contact is described in detailed.
关 键 词:动态接触电阻测试系统 可靠性 电阻测量
分 类 号:TM934.14[电气工程—电力电子与电力传动]
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