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出 处:《无机化学学报》2002年第8期769-772,共4页Chinese Journal of Inorganic Chemistry
基 金:国家自然科学基金资助项目(No.29881001;69971023)
摘 要:采用双注控制沉积法(ControlledDouble-JetPrecipitation,CDJP)将反应物添加到含有SiO2的溶液中,通过直接的表面反应来制备单分散的SiO2/ZnO复合纳米粒子,并对其进行了表征。透射电镜(TEM)观察表明,SiO2表面有一层ZnO纳米颗粒或薄层。对复合纳米粒子SiO2/ZnO进行X射线衍射(XRD)分析,复合颗粒的衍射峰与单独的氧化锌的衍射峰完全一致。能量弥散X射线法(EDX)分析表明,复合颗粒中含有Zn、Si、O元素。荧光光谱表明有ZnO的吸收峰。A new method for the preparation of co mposite nanoparticles SiO 2 /ZnO by the controlled double-jet pr ecipi£-tation£¨CDJP£(c)technique is des cribed£(r)The transmi ssion electron microscope£¨TEM£(c)images of SiO 2 /ZnO show that on the silica(SiO 2 £(c)surface the ZnO nanoparticles are coated as thin layers or nanoclusters,a nd this result depends on the reaction conditions£(r)The powder X-ray diffraction £¨XRD£(c)of the initial SiO 2 £ˉZnO powder yields diffraction peaks corresponding to the ZnO phase£(r)The en ergy£-dispersive X£-ray£¨EDX£(c)analysis shows the presence of Zn,O and Si elemen ts£(r)The fluorescence ph otograph shows a peak at 400nm,which is in accordanc e with the sole ZnO particle
关 键 词:SiO2/ZnO复合纳米粒子 双注控制沉积法 制备 表征 纳米半导体 二氧化硅 氧化锌
分 类 号:TN304.21[电子电信—物理电子学] TB383[一般工业技术—材料科学与工程]
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