高集成、可扩展的比特误码率测试解决方案  

出　　处：《今日电子》2014年第3期55-55,共1页Electronic Products

摘　　要：M8000系列比特误码率测试解决方案是一种高度集成、可扩展的比特误码率测试解决方案，可对当今高速数字设计所用的接收机执行物理层表征、验证和一致性测试。M8000系列比特误码率测试解决方案支持广泛的数据速率和标准，提供精确可靠的测试结果，可加速对用于计算机、消费电子、服务器、移动计算以及数据中心产品的高速数字设备进行性能裕量分析。

关 键 词：测试解决方案 比特误码率 可扩展 高集成 M8000 高速数字设计 一致性测试 高度集成 

分 类 号：TN929.533[电子电信—通信与信息系统]