检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]西北工业大学,西安710072
出 处:《计算机与数字工程》2014年第8期1498-1501,共4页Computer & Digital Engineering
摘 要:介绍了一种基于NiosⅡ的NAND Flash控制器,对三星公司的K9WAG08U1A型NAND Flash芯片的坏块的查询方法进行了讨论。提出了一种基于FPGA的坏块处理方法,并对硬件系统进行了比较详细的介绍。论文系统采用Altera公司的FPGA(现场可编程门阵列)进行开发,通过USB进行数据的传输,通过NiosⅡ对系统进行整体调度,实现了屏蔽对坏块的操作,实现对Flash的可靠存储。A NAND Flash controller based on Nios Ⅱ is introduced and the method of finding the bad block of NAND Flash is discussed whose model number is K9WAG08U1A from Samsung Company.A method is introduced to inquire the bad block based on FPGA and the hardware system is introduced in detail.This system is developed by using FPGA(field programmable gate array) made by Altera Company.The data transmission is made by USB,the whole system is dispatched by Nios Ⅱ to shield the bad block and realize the store of data to the Flash.
分 类 号:TP274.2[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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