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作 者:陈彦舟[1] 谢雷[1] 王燕[1] 王虹[1] 孙光爱[1] 陈波[1]
机构地区:[1]中国工程物理研究院中子物理学重点实验室和核物理与化学研究所,绵阳621900
出 处:《核电子学与探测技术》2014年第4期505-508,525,共5页Nuclear Electronics & Detection Technology
基 金:中国国家自然科学基金(11079043;11105128;51231002)
摘 要:利用丹麦RISΦ国家实验室和法国ILL研究所共同开发的蒙特卡罗程序McStas模拟计算了在完美硅单晶双聚焦单色器不同起飞角(10°~120°)下α-Fe样品(110)面的衍射峰强度和半高宽,由此计算了品质因子的值。模拟了固定起飞角为50°时α-Fe样品多个衍射面的衍射峰强度和半高宽。最后考察了圆柱形样品的半径对强度和半高宽的影响。模拟结果可为中子衍射应力分析谱仪的设置和运行提供必要的参考数据。This paper uses the Monte Carlo program McStas developed by Ris φDTU Denmark and ILL France to calculate diffraction peak intensities and FWHMs of α-Fe(110) with different monochromator take -off an-gles(10°~120°).The FoMs are therefore calculated .Peak intensities and FWHMs for different α-Fe diffrac-tion planes are simulated when the take -off angle is fixed at 50°.Finally the influence of column shaped sam-ple radius on intensities and FWHMs is evaluated .The results of simulation experiment could offer necessary reference data for the setup and operation of Residual Stress Neutron Diffractometer .
关 键 词:蒙特卡罗模拟实验 中子衍射应力分析谱仪
分 类 号:TL817[核科学技术—核技术及应用]
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