小角X射线散射中Porod正偏离的校正  

作　　者：李志宏[1] 王俊[2] 等 

机构地区：[1]中国科学院山西煤炭化学研究所煤转化国家重点实验室，太原030001 [2]中国科学院北京高能物理研究所同步辐射实验

出　　处：《同步辐射装置用户科技论文集》2000年第1期168-170,共3页

摘　　要：当散射体系中除散射体外还存在微电子密度起伏时，实测散射强度将形成对Porod定理的正偏离，从而使散射体的散射失真。提出了一种在长狭缝准直条件下应用模糊强度校正正偏离的方法：作出ln[q^3I^-(q)]-q^2曲线，用公式n[q^3I(q)]=InK'+σ^2q^2拟合大波矢区直线，求出斜率σ^2,作出ln[q^3I^-(q)]-σ^2q^2-q^2曲线即为无偏离的Porod曲线，由此曲线再还原出无偏离的散射强度，即I^-'(q)=exp{ln[q^3I^-(q)]-σ^2q^2}/q^3，再以醇热法合成的介孔氧化锆粉体为例进行了讨论。

关 键 词：小角X射线散射 Porod定理 正偏离 校正 介孔氧化锆粉体 醇热法 介孔结构 

分 类 号：O722.5[理学—晶体学]