基于CCD成像方法的激光束近场光强分布测试技术?  

Measurement technique on beam of laser near field intensity distributon based on CCD imange

作　　者：田英华[1,2] 叶一东[1,2] 向汝建[1,2] 关有光[1,2] 

机构地区：[1]中国工程物理研究院高能激光科学与技术重点实验室,四川绵阳621900 [2]中国工程物理研究院应用电子学研究所,四川绵阳621900

出　　处：《强激光与粒子束》2014年第9期16-20,共5页High Power Laser and Particle Beams

基　　金：国家高技术发展计划项目

摘　　要：激光束近场光强分布是影响激光束特性的重要参数之一,为了使目前激光束近场光强分布的评价更加合理和科学化,对CCD直接测量法和漫反射屏测量法两种测量方法进行了研究,并分析了材料不同的漫反射屏对测量结果的影响。研究结果表明,漫反射屏材料的不同对测量结果有较大影响,并且漫反射屏测量法存在的散斑对测量结果影响也较大。两种测量方法比较表明CCD直接测量法测得结果更加客观,与真实值更加接近。Measurement methods about beam of laser near field intension distributing is carried out.The measurement methods include direct measurement by CCD and indirect measurement by diffuse reflection screen.As a result,different diffuse reflection screens bring on different measurement results.The great influence on measurement results is because of speckles while measured by indirect measurement.The results of direct measurement are close to real result.The speckles affect measurement result.

关 键 词：近场 光强分布 测试 漫反射 散斑 

分 类 号：O348[理学—固体力学]