同步辐射X射线干涉的实验研究  

作　　者：蒋建华[1] 王林[2] 等 

机构地区：[1]中国科学院高能物理研究所，北京100039 [2]清华大学精密仪器系，北京100084

出　　处：《同步辐射装置用户科技论文集》1998年第1期161-165,共5页

摘　　要：介绍在北京同步辐射装置上进行的国内首次LLL型X射线干涉实验研究，在X光底片上观察到了Moire干涉条纹，为进一步利用X射线干涉技术实现纳米测量打下了初步基础。

关 键 词：X射线干涉 实验研究 同步辐射 X射线干涉仪 纳米测量 干涉实验 原理 

分 类 号：TH744.3[机械工程—光学工程] O436.1[机械工程—仪器科学与技术]