控制回路性能评估与诊断综述  

作　　者：张抗抗[1,3] 李展[2,3] 黄彪 

机构地区：[1]厦门大学自动化系,福建厦门361005 [2]华东理工大学化工过程先进控制和优化技术教育部重点实验室,上海200237 [3]Department of Chemical and Materials Engineering, University of Alberta, Edmonton, AB, T6G 2G6, Canada

出　　处：《自动化信息》2014年第8期21-23,共3页Automation Information

摘　　要：控制回路性能评估与诊断技术是工业过程控制领域自上世纪80年代末兴起的一项重要技术，近几年来一直是该领域的研究热点。该技术旨在利用控制回路中的运行数据对当前控制性能做出评估，并诊断系统性能下降的原因。目前控制回路性能与诊断已成为保障工业自动化系统平稳高效运行的主要技术。本文围绕方向综述了近几十年来的研究成果，并重点介绍了贝叶斯诊断方法，同时对该研究领域进行了展望。

关 键 词：诊断技术 性能评估 控制回路 综述 工业自动化系统 控制领域 工业过程 控制性能 

分 类 号：TP278[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]