检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:孙洵[1] 许心光[1] 王正平[1] 陈鸿剑 李义平[1] 邵宗书[1] 高樟寿[1] 房昌水[1]
机构地区:[1]山东大学晶体材料国家重点实验室,晶体材料研究所济南250100 [2]陕西省质检站,西安710054
出 处:《压电与声光》2002年第4期303-305,共3页Piezoelectrics & Acoustooptics
摘 要:利用透射电子显微技术对不同条件下生长的 KDP晶体中包裹物进行了观察并测量了其相应尺寸。结果表明 ,晶体中的生长缺陷、p H值、生长速度和杂质与Scatter particles in KDP crystal grown from different conditions are observed and measured by TEM.The results show that growth defects,growth velocity,pH values and impurities are the reasons of causing the formation of scatter particles in KDP crystal.
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