一种DWARF格式行号调试信息解析方法  被引量:4

A Method to Analyze DWARF Format Debugging Information for Line Number

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作  者:林广栋[1] 刘谷[1] 王强[1] 刘玉[1] 

机构地区:[1]华东电子工程研究所,合肥230031

出  处:《现代计算机(中旬刊)》2014年第9期3-9,共7页Modern Computer

摘  要:调试系统是嵌入式芯片配套基础软件的重要组成部分。而调试系统的核心是对可执行文件中调试信息的解析以及对调试信息的管理。DWARF调试信息格式是一种普遍使用的调试信息格式,它可以以压缩的二进制格式存储调试信息,并具有丰富的表达形式。BWDSP芯片是一款自主开发的高性能通用DSP,其调试系统使用一种自主创新的方法解析DWARF行号调试信息。经实践证明,该方法可以高效正确地解析出DWARF行号调试信息。Debugging system is an important component of basic software for embedded systems. The kernel of debugger system is to analyze debug-ging information stored in executable files, and to manage debugging information efficiently. DWARF format is a commonly used format for storing debugging information, and its advantages are compact format and powerful expression. Introduces a method to analyze line number and address information from DWARF format in BWDSP's debugger system. Application results prove that the method can effi-ciently and correctly decode line number information in DWARF.

关 键 词:调试系统 调试信息 DWARF BWDSP 

分 类 号:TP368.1[自动化与计算机技术—计算机系统结构]

 

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